WK4100 LCR表 系列

0.1% 基本精确度,266PCS/分产量~540PCS/分

双频测试,四项参数显示

4110频率范围20Hz~100kHz

4120频率范围20Hz~200kHz

4150频率范围20Hz~500kHz

41100频率范围20Hz~1MHz

GPIB USB,LAN,RS232界面与操作软件

测试参数:Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc

1J4110    频率范围20Hz~100kHz

1J4120    频率范围20Hz~200kHz
1J4150    频率范围20Hz~500kHz
1J41100  频率范围20Hz~1MHz

• 测试频率：20Hz—1MHz

• 基本精度：0.1%

• 最快测试速度：〈20ms

• 提供B1、B2、S1和S2测包讯号，可连接各家封装测试机

• 测试参数：阻抗(Z),  相位角(θ)、交流电阻（Rac）、电容(C),  损耗因数(D),电感(L), 品质因数(Q),电纳(B),  

电导(G), 电抗(X), 导纳(Y)和直流电阻（Rdc）

• 交流信号源：10mV—2Vrms

• 通信接口：GPIB、RS232、LAN和USB

• 直流叠加：内置+2V，外加0—±40V

• 具有带电电容器放电保护电路

• 体积小、重量轻、性价比更高的元器件测试仪器

4100.pdf