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ATP5020 系列是新一代 TE 制冷高性能光纤光谱仪,采用背薄式制冷 CCD(2048 像元,制冷至 -10℃),光谱范围 180-1180nm,分辨率 0.01-3nm,信噪比 >900:1(ATP5040 >8000:1)。超低噪声 CCD 信号处理电路使读出噪声低于 6e-,测量结果不受环境温度影响,通过 SMA905 光纤或自由空间接收光信号,USB2.0/UART 输出,便于集成到各类工业光谱应用。
ATP5020 系列是新一代 TE 制冷高性能光纤光谱仪,采用背薄式制冷 CCD(2048 像元,制冷至 -10℃),光谱范围 180-1180nm,分辨率 0.01-3nm,信噪比 >900:1(ATP5040 >8000:1)。超低噪声 CCD 信号处理电路使读出噪声低于 6e-,测量结果不受环境温度影响,通过 SMA905 光纤或自由空间接收光信号,USB2.0/UART 输出,便于集成到各类工业光谱应用。

| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 型号 | ATP5020P(UV 增强)/ ATP5020R(NIR 增强)/ ATP5040(4096 像元) |
| 探测器 | TE 制冷背薄式线阵 CCD,2048×64 像元,像元 14μm×14μm,制冷至 -10℃ |
| 光谱范围 | 180-1180nm(180-1100nm 取决于应用) |
| 分辨率 | 0.01-3nm(取决于范围与狭缝) |
| 信噪比 / 动态范围 | >900:1 / 10000:1 |
| 光路 / 狭缝 | F/4 交叉非对称 C-T;入射焦距 98mm / 出射 107mm;狭缝 5-200μm 可选 |
| 积分时间 | 6ms~30min |
| 数据输出 | USB2.0 高速或 UART;ADC 18bit(16bit 有效) |
| 供电 | DC 5V±10%,<2.3A |
| 尺寸 / 重量 | 217×110×52mm;1.6kg;防汗密封 |